应用领域:
IC fab, wafer manufacturing, solar cell, LED, MEMS, FPD, photonics.
设备特性:
Four Dimensions 提供从手动到全自动的系列汞探针C-V/I-V 测试仪。
· 应用广泛: 介质薄膜品质, 外延层、离子注入层, 载流子浓度分布, 界面缺陷, SOI晶片特性, 铁电体材料特性等等。
· 具有不同面积汞接触, 点-环接触等功能,针对厚膜、极薄膜及SOI等各类应用.
· 积4D 三十年经验, 产品质量高, 性价好.
