产品详情
汞探针测试仪 C-V Probes
汞探针测试仪 C-V Probes
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应用领域: IC fab, wafer manufacturing, solar cell, LED, MEMS, FPD, photonics.
设备特性: Four Dimensions 提供从手动到全自动的系列汞探针C-V/I-V 测试仪。
·应用广泛: 介质薄膜品质, 外延层、离子注入层, 载流子浓度分布, 界面缺陷, SOI晶片特性, 铁电体材料特性等等。
·具有不同面积汞接触, 点-环接触等功能,针对厚膜、极薄膜及SOI等各类应用.
·积4D 三十年经验, 产品质量高, 性价好.

美国:+1 (408) 420-3561    |   北京:+86 (010) 62561331    |   上海:+86 (021) 61363596


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