产品详情
晶片缺陷快测魔镜 Magic Mirror
晶片缺陷快测魔镜 Magic Mirror
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应用领域: Wafer manufacturing (Si, GaAs等), IC fab, MEMS.
设备特性: Magic Mirror, 测晶片缺陷的经典手段.
·Detect dimple and depressed areas.
·Detect mounds and raised areas.
·Detect slip lines.
·Manual models or high throughput automatic models.

美国:+1 (408) 420-3561    |   北京:+86 (010) 62561331    |   上海:+86 (021) 61363596


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