产品详情
晶格位挫检测 Wafer Slip Finder
晶格位挫检测 Wafer Slip Finder
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应用领域: Wafer manufacturing (Si, GaAs等), IC fab, MEMS.
设备特性: Automated submicron slip detection systems.
·Epi, RTP, Diffusion, Annealing, SOI.
·Blank wafers, device patterned wafers, SOI wafers.
·Up to 300 mm wafer sizes.
·Manual models or high throughput automatic models.

美国:+1 (408) 420-3561    |   北京:+86 (010) 62561331    |   上海:+86 (021) 61363596


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