产品详情
 微光斑薄膜测试仪 Micro-Spectrophotometer for Thin Film Measurement
微光斑薄膜测试仪 Micro-Spectrophotometer for Thin Film Measurement
产品详情

应用领域: IC fab, MEMS, photonics, nano technologies.
设备特性: Angstrom Sun 微斑光谱薄膜测试仪广泛用于微小区域薄膜测试.
·可测多达5层的膜厚,可测反射、透射及吸收光谱. 检测光斑可小达5 μm.
·光谱范围广, 检测膜厚达10 nm to 25 ?m.
·可具有高达12”直径自动 mapping 功能,软件功能强大.
·可具有高灵敏度数吗摄像功能.

美国:+1 (408) 420-3561    |   北京:+86 (010) 62561331    |   上海:+86 (021) 61363596


会员登录
登录
其他帐号登录:
我的资料
留言
回到顶部